用于 FPD 检测的精密花岗岩

在平板显示器 (FPD) 制造过程中，会进行检查面板功能的测试和评估制造过程的测试。

阵列过程中的测试

为了测试阵列工艺中的面板功能，阵列测试需要使用阵列测试仪、阵列探针和探针单元进行。该测试旨在测试在玻璃基板上形成的面板TFT阵列电路的功能，并检测任何断线或短路。

同时，为了测试阵列工艺中的制程，检查制程是否成功并反馈前一制程，需使用直流参数测试仪、TEG探针及探针单元进行TEG测试。（“TEG”代表测试元件组，包含TFT、电容元件、导线元件以及阵列电路的其他元件。）

单元/模块流程中的测试
为了测试电池片制程及模组制程中的面板功能，进行了点灯测试。
面板被激活并照亮以显示测试图案，以检查面板操作、点缺陷、线缺陷、色度、色差（不均匀性）、对比度等。
有两种检查方法：操作员目视面板检查和使用 CCD 摄像机的自动面板检查，自动执行缺陷检测和通过/失败测试。
使用电池测试仪、电池探针和探针单元进行检查。
模块测试还采用了Mura检测和补偿系统，可以自动检测显示屏中的Mura或不均匀现象，并通过光控补偿消除Mura。