用于FPD检测的精密花岗岩

在平板显示器 (FPD) 制造过程中，会进行测试以检查面板的功能，并进行测试以评估制造过程。

阵列过程中的测试

为了测试阵列工艺中的面板功能，需要使用阵列测试仪、阵列探针和探针单元进行阵列测试。该测试旨在检验玻璃基板上面板所用TFT阵列电路的功能，并检测是否存在断线或短路。

同时，为了测试阵列工艺流程，检查工艺流程是否成功并对前一工艺流程进行反馈，使用直流参数测试仪、TEG探头和探头单元进行TEG测试。（“TEG”代表测试元件组，包括TFT、电容元件、导线元件以及阵列电路的其他元件。）

单元/模块过程中的测试
为了测试电池工艺和组件工艺中的面板功能，进行了照明测试。
面板被激活并点亮，以显示测试图案，检查面板操作、点缺陷、线缺陷、色度、色差（不均匀性）、对比度等。
有两种检测方法：操作员目视面板检测和使用 CCD 相机自动进行面板检测，后者可自动执行缺陷检测和合格/不合格测试。
电池测试仪、电池探针和探针单元用于检测。
该模块测试还采用了一种不均匀性检测和补偿系统，该系统能够自动检测显示屏中的不均匀性，并通过光控补偿消除不均匀性。